儀器特點:
1.儀器外觀選用的流線型設(shè)計,時尚雅致。
2.同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾(U)。
3.可以分析多5層鍍層,可分析元素多達24種。
4.無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程,測試。
5.檢出限可2ppm。
6.分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm 。
7.采用美國原裝、國際的探測器,能量分辨率高。
8.采用美國原裝、國際的AMP,處理速度快,高,穩(wěn)定。
9.X光管采用正高壓激發(fā),激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示。
10.采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察拍攝樣品。
11.采用電動無控制樣品平臺,可以進行X-Y-Z的移動,準(zhǔn)確方便。
12.采用雙激光對焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測量位置。
13.高度傳感器。
14.保護傳感器,保護探測器。
15.度高,穩(wěn)定性好,故障率低。
16.輻射系統(tǒng):隱蔽式設(shè)計、軟件、硬件三重射線護系統(tǒng)多層屏蔽保護,輻射性。
17.WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,的分析方法,強大的功能,操作簡單,使用方便。
應(yīng)用:
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層(接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等)、鋼鐵材料鍍層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等)、有色金屬材料鍍層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
1.銅上鍍金單鍍層厚度測量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測量是工業(yè)中常見的,利用Thick-900系列X熒光鍍層測厚儀可以獲得很的結(jié)果。
熒光厚度與已知厚度樣品結(jié)果對比:
鍍層標(biāo)準(zhǔn)厚度(μm) | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
鍍層熒光厚度(μm) | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |









