1．目的：規範陶瓷圓片電容器的客觀品質標準，讓客戶能詳細瞭解本公司該類産品，確公司的産品能滿足客戶的要求。 2．適用範圍：適用於本公司生産的陶瓷圓片電容器。含檢驗狀態、檢驗項目、標準參數、判斷標準、檢測方法等內容。 3．內容： 3.1檢驗環境狀態：室溫25℃&plun;2℃，溫度65%&plun;15%； 3.2注意事項：避免熱源對待檢品前後的影響； 3.3處理： 3.3.1待檢物須放置室溫中30分鐘以上方可檢測其電氣物性； 3.3.2待檢物檢測完耐電壓或絕緣電阻後，須放置室溫12小時後方可檢測其容值 和其他電氣特性； 3.4項目規格及檢測方式： | |||
項 目 | 規 格 | 檢測方法及條件 | |
1．外觀、尺寸及標誌 | 無異常 | 依外觀、尺寸及標誌標準，尺寸用遊標卡尺檢查，外觀、標誌用目視法檢驗； | |
2．絕緣電阻 | 一類 | 10000MΩMIN | 端子間施加額定電壓施壓，500VDC以上 以500VDC測定，測定時間爲60秒以內。 |
二類 | 5000MΩMIN | ||
三類 | 100MΩ&tim;UFMIN | ||
3．耐電壓 | 無破裂等明顯損壞異狀 | 端子間加工作電壓施壓1-5秒，充放電電流爲50mA以下。 Ι、Ⅱ類瓷: W.V＜500VDC T.V＝250%&tim;W.V W.V≧500VDC T.V＝150%&tim;W.V+500V Ш類瓷：試驗電壓=1.5UR | |
4．靜電容量 | 在標準允許誤差內 | 使用頻率： 一類：≤1000PF檢測頻率用1MHz ＞1000PF檢測頻率用1KHz 二、三類：檢測頻率用1KHz 使用電壓： 一、二類用1.0VRMS 三類用0.1VRMS | |
