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以下是jet300在線測(cè)試儀的產(chǎn)品特性
　　硬體規(guī)格
　　REED RELAY的掃描板
　　JET-300的掃描板采用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了I 掃描板容易損壞的問題，由于REEDRELAY 的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有。諸如：
　　Agilent TestJet Technology
　　美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開路完整偵測(cè)的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJetTechnology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的授權(quán)后，已于JET-300 I系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點(diǎn)如下：
　　Agilent TestJet Technology可測(cè)試各種不同包裝的IC，如 Insertion te，PLCe，QFP te，TAB te，PGA te（無接地者），BGA te（OMPAC）等都可測(cè)試。
　　Agilent TestJet Technology也可用來偵測(cè)各種插座的接腳斷路，不論是Insertion te或是SMD te皆可偵測(cè)。
　　
　　寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測(cè)法
　　對(duì)于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C.可用相位測(cè)量法，分別量出其件值，由于信號(hào)源頻率寬廣（100Hz到1MHz），因此可以偵測(cè)的范圍一般的I，像下圖缐路中的件都可以準(zhǔn)確量測(cè)。
　　三端點(diǎn)、四端點(diǎn)量測(cè)
　　JET-300可對(duì)三端點(diǎn)的件如 TRANSISTOR，DIGITALTRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等。或四端點(diǎn)件如 PHOTOCOUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或件損壞，可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。
　　電解電容性測(cè)試
　　以三端點(diǎn)法偵測(cè)鋁質(zhì)電解電容性反插，可測(cè)率100%；以測(cè)漏電流方式偵測(cè)電解電容性反插，可測(cè)率高。

如有需要的請(qǐng)聯(lián)系：江小姐

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