臺階儀
厚度47nm光柵標準樣品,三次重復測量結果(減噪修正，原始數據輸出）
NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發的無需震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM位移傳感器，
壓電陶瓷驅動掃描，無內源振動
自集成主動反饋式震系統
真正無需額外輔助震系統，實現高重復性納米測量
納米量級科學研究的備產品
NanoMap-PS 臺階儀可以應用在半導體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導體，OLED，生物醫藥，PCB封裝等領域的薄膜厚度，臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高，高重復性，自動探索樣品表面，自動測量深受廣大客戶歡迎。
測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設備傳感器高，穩定性好。熱噪聲是同類產品的。垂直分辨率可達0.1nm 。 可測表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒等；
AEP的技術日新月異。 欲了解新的產品性能參數，請與我們聯系。
主要參數 :
垂直分辨率 0.1nm
垂直量程 1000um
探針接觸力 0.03mg-100mg
平臺范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大）
高清圖像 4級放大，彩色CCD
成像光源 雙長壽命強光LED
金剛石探針 0.5um 到 25um 可選
請call：4000666226，電話：+86-
關鍵詞：輪廓儀、形貌儀、磨損體積測量儀、臺階儀、薄膜測厚儀、三維表面輪廓儀、三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式臺階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀 stulye profiler，臺階儀，臺階儀，臺階儀，臺階儀，臺階儀，臺階儀，臺階儀，臺階儀，臺階儀，bruker，Daktek，Veeco，Dektak XT，Ambios， KLA-Tencor，D-100，D-120，ST-100，ST-200，ST-300，
XP-1/XP-2；XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300；α-step IQ(100,200,250,500)；α-step P6；α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15)；α-step P16+0F； KLA-Tencor公司
光學輪廓儀(白光干涉儀/ 移相干涉儀)；MicroXam 100；MicroXam 1200
