Antaris II集成有的近紅外采樣技術(shù),包括:
● 積分球透反射
● 液體
● 卡片式固體
● 藥片/膠囊漫
● 光纖探頭漫反射
● 光纖探頭/透反射
分析模型和方法輕而易舉地轉(zhuǎn)移至其它Antaris儀器
的采樣方式一旦在Antaris II上得以確立,經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的分析模型可以輕松地轉(zhuǎn)移至其它An t a r i s儀器,Antaris均建立在相同的光學(xué)平臺(tái)
上,照射到樣品上的調(diào)制光束相同,這對(duì)于節(jié)省建模成本和系統(tǒng)維護(hù)成本、節(jié)省時(shí)間帶來(lái)了大方便。而且Antaris II也可以直接搬至工業(yè)現(xiàn)
場(chǎng),不經(jīng)任何修飾的承擔(dān)工業(yè)分析任務(wù)。
卓越的近紅外技術(shù)
工業(yè)化的分析系統(tǒng),整體鑄模設(shè)計(jì),密封干燥、振性能,輕松自如地適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下的樣品分析任務(wù);模塊均采用
高靈敏度InGaA檢測(cè)器,內(nèi)置背景自動(dòng)采集;積分球?qū)β瓷涔獾氖占矢哂?5%,的檢測(cè)靈敏度;計(jì)算機(jī)控制自動(dòng)3位樣品穿梭器
(具備2個(gè)樣品光路和一個(gè)內(nèi)部背景光路);同時(shí)對(duì)藥片或膠囊進(jìn)行和漫反射分析, 得到樣品表面材料(如包衣)和內(nèi)部組成信息;光纖
探頭在線檢測(cè)時(shí)無(wú)需手動(dòng)采集背景,避免取離光纖探頭去采集背景而干擾檢測(cè)過(guò)程;U即插即用接口,避免網(wǎng)卡通訊可能存在的物理地址和IP
地址沖突。
?
AntarisII傅立葉變換近紅外光譜儀主要配置技術(shù)性能簡(jiǎn)介
?
采樣方式:
1.積分球漫反射檢測(cè):
?高靈敏度InGaAs檢測(cè)器
?內(nèi)置自動(dòng)金箔背景采集方式
化學(xué)惰性蘭寶石窗口
配置樣品杯旋轉(zhuǎn)器及石英樣品杯
2.檢測(cè):
高靈敏度InGaAs檢測(cè)器
自動(dòng)穿梭切換檢測(cè),可在不取離樣品的情況下自動(dòng)背景測(cè)定
液體樣品分析,適應(yīng)于光程為0.5-10mm的比色皿或玻璃管
薄膜、紙張、薄片等樣品分析,配置卡片直插式檢測(cè)裝置
3.光纖測(cè)量方式:
采用的高靈敏度InGaAs檢測(cè)器
能分析固體、粉末等樣品
能進(jìn)行遠(yuǎn)程操作,光纖探頭上有狀態(tài)指示燈
能自動(dòng)采用其它檢測(cè)模塊采集背景,避免背景污染
可選配透反射附件分析液體樣品
4.片劑/膠囊檢測(cè)系統(tǒng):
配置高靈敏度InGaAs檢測(cè)器
可同時(shí)對(duì)藥品片狀樣品或膠囊狀樣品進(jìn)行和反射檢測(cè),即掃描同時(shí)得到和反射兩張光譜圖,即得到樣品表面和內(nèi)部不同組分的全
部光譜信息。
?
光譜儀技術(shù):
1.干涉儀:
??具備動(dòng)態(tài)準(zhǔn)值控制系統(tǒng)的邁克耳遜干涉儀,以每次測(cè)定結(jié)果的高度穩(wěn)定性和重現(xiàn)性
??配置近紅外高通量CaF2分束器
2.光源、激光器和內(nèi)部維護(hù):
??近紅外鹵鎢燈光源,He-Ne激光器
??光源和激光器的更換可由用戶自行進(jìn)行,無(wú)需調(diào)整光路,光源更換無(wú)需打開(kāi)儀器主機(jī)箱
可使用普通干燥劑(變色硅膠)保持儀器內(nèi)部環(huán)境干燥
?性能參數(shù)
1.主機(jī)光譜范圍:12, 800 – 3, 800 cm-1 (833 – 2630nm)
2.分辨率:4 cm-1?(0.6nm@1250 nm),?可選2cm-1?(0.3nm@1250 nm)
3.波數(shù)準(zhǔn)確度:± 0.03 cm-1 (.005 nm?nm @ 1250 nm)
4.波數(shù)重現(xiàn)性(單系統(tǒng)):10次測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)偏差 < 0.006 cm-1
5.波數(shù)重現(xiàn)性(系統(tǒng)間):0.05 cm-1
6.光度線性度:斜率范圍1.0 ± 0.05,截距范圍0.0 ± 0.05








