Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀

Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀簡單介紹：
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀（庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀地測量范圍在0.05 - 40 μm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。電解測厚儀具有測試多層復(fù)合測量模式等特點，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標準件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機構(gòu)。

Benchtop unit for coulometric coating thickness measurement of virtually all metallic coatings on metallic or nonmetallic substrates; of individual layers or multi-layers.

Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀根據(jù)庫侖電量分析法進行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準
通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進行測量。可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

COULOSCOPE CMS

該多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準

Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀特點

庫侖析法電解鍍層，符合 DIN EN ISO 2177標準
V18測量臺通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能
大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結(jié)果

典型應(yīng)用領(lǐng)域

該儀器幾乎可以測量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。甚至可以測量多層鍍層.
測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，鍍層也可以是多鍍層。典型的可測量厚度范圍 0.05 – 40 μm。也適用于線材上鍍層的測量

標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

   大屏幕點陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
  可設(shè)置和儲存：50個應(yīng)用程式、600個數(shù)據(jù)組；3 000個數(shù)據(jù)
  統(tǒng)計：平均值、值、小值、標準偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
  使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
  RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
  模擬輸出： 0 ～ -18V
  輸入阻抗：＞ 2 KΩ
  工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
  儀器重量： 6 kg
  電源： AC 220 V ，50-60 Hz；功耗 ≤ 85 VA
  尺寸： 350W * 140H * 200D mm