CSI原子力顯微鏡的詳細介紹

多種工作模式

接觸模式

輕敲模式

CAFM（導電AFM）

PFM（壓電力）

MFM/EFM（磁力/靜電力）

FMM（力調制）

HD-KFM（開爾文力）

ResiScope（擴散電阻）

STM

的電特性測量模塊

HD-KFM :

市場上的分辨率和靈敏度

更好的算法，更好的鎖相靈敏度

易用使用，自動調用智能算法

ResiScope :

10個數量級測量范圍——從100Ω~1TΩ之間（競爭者多只覆蓋了7個數量級）

較低的電流流經探針/樣品（不會局部氧化，不會因為高電流損害探針/樣品）

同時兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，不用做任何變動而丟失樣品的位置！

 Soft-ResiScope :

仍然有10個數量級的測量范圍，更適合軟性樣品成像和電阻/電流測量。

適用于多種環境的測量

溫度控制：

可達200°

對于壓電器件可以進行更穩定的加熱分離（不漂移）

與大氣控制、液體模式和所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

大氣控制（氣體和濕度）：

濕度控制不會損害光電探測器和激光器

光電探測器和激光器可以正常調節對齊

容易和快速設置

與所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

液體測量：

壓電保護

激光容易對準（可以利用頂部CCD在空氣中對準激光）

非常穩定的輕敲模式的使用

高品質的測量平移式壓電掃描器：

三軸獨立

低噪音，具有原子級分辨率

100μm掃描，Z方向9μm

智能化AFM

低噪聲低功耗相干激光器

低噪音控制器（低電壓驅動壓電掃描器）

24位DAC控制

大范圍掃描，高分辨率，且無需更換掃描器。

易于使用

自動調諧集成鎖相

自動設置的電子系統

頂部和側面CCD視圖

直觀的軟件和預先配置的AFM模式

主要的參數指標

1、XY掃描分辨率： 0.06nm

2、Z掃描分辨率： 0.006nm

3、掃描范圍：XY向100um，Z向9um

4、超低噪音高壓：典型值：＜0.01 mV RMS

5、數據采樣點：高達4096

6、DAC輸出：6個D/A轉換器-24位

7、ADC輸入：8個A/D轉換器-16位

8、集成鎖相：高達6MHz

9、控制器電源：AC 100~240 V,47~63 Hz

10、計算機接口：USB2.0/3.0

11、運行環境：運行于Windows XP/7/8/10操作系統

CSI原子力顯微鏡應用領域

金屬，納米材料，高分子聚合物，薄膜&涂層，DNA，蛋白質，半導體，光電材料，

太陽能電池，蓄電池，電化學領域，磁性材料，壓電領域，分子電子或組織，導電材料表面表征…

CSI原子力顯微鏡應用實例

C36分子    掃描范圍250nm                       DNA    掃描范圍1μm

高分子聚合物 (PDES)    掃描范圍12μm

石墨烯   掃描范圍10μm

磁性三角形結構   掃描范圍4.5μm

人造旋轉冰   掃描范圍6.5μm

PFM模式        PZT樣品   掃描范圍10μm

ResiScope模式       半導體摻雜劑表征    掃描范圍4μm