型號: PW-600/PW-800
規格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y電動移動行程150mm(200mm)
chuck粗調升降8mm,微調升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領域:6寸/8寸Wafer、IC測試之產品
RF高頻探針臺

東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探針材料:BeCu/Tungsten











