Advantest Q8381A是具有0.35到1.75μm的寬波長范圍的光譜分析儀。
在傅立葉光譜系統中,邁克爾遜干涉儀的應用使單色器的離譜系統所不能進行的連續分析成為可能。它顯示了評估CD和視頻光盤的激光二管的能力。
作為參考波長的內置HE-NE激光器可以識別±0.1nm(1.3nm) 的波長，甚至在不經過波長校準的情況下也可以長期的測量穩定性。
Q8381A提供了大0.05nm(在0.85μm)的波長分辨率，適合于測量窄模式間隔的激光二管。不論分析的跨度多少，測量速度進約為1.5秒（在0.4μm到1.05μm和0.8μm到1.75μm），使它可以作為系統一部分。
Advantest Q8381A具有的顯示、分析和處理功能，它可以對諸如激光二管和LED之類的光發射元件以及光纖和濾波器光元件進行特性測量。
技術指標
波長：
測量范圍 0.35~1.75μm
大分辨率*1 近似為0.05nm(0.85μm)
近似為0.1nm(1.31μm)
±0.1nm(波長顯示為真空中的值)
帶寬 0.1~140nm/DIV
電平：
測量范圍（輸入靈敏度） -70dBm到+10dBm(0.7~1.6μm)
-60dBm到+10dBm(0.45~1.7μm)
-45dBm到+10dBm(0.35~1.75μm)
小電平在經過16次平均的50nm帶寬處
±2.0dB或更少（0.85μm或1.31μm的波長處）
線性度*2 ±1.0dB/25dB或更少
±0.5dB/10dB或更少
標度 0.2，0.5，1.0，2.0，5.0，10.0dB/DIV和線性
處理功能：
測量時間*3 1.5秒或更少(單一模式，平均：1，觸發到數據輸出)
存儲功能 32頁(測量數據) 10頁(測量條件)帶備用電池
顯示 全屏，分屏(上部和下部)，三維顯示，光標功能
計算/分析 連續分析(±10.4nm）；
正常化(損耗/傳輸)平均；
自動峰值搜索；
半寬度測量；
測量條件自動設置
Advantest Q8381A光譜分析儀器
