點(diǎn)針工作站手動(dòng)分析探針臺(tái)失效分析半導(dǎo)體測(cè)試元器件電性能測(cè)試
在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實(shí)效分析過(guò)程中，經(jīng)常要量測(cè)內(nèi)部的電參數(shù)，由于制成的越來(lái)越低，沒(méi)有辦法用簡(jiǎn)單的萬(wàn)用表、示波器的表筆來(lái)探測(cè)信號(hào)。手動(dòng)分析探針臺(tái)能很好的幫助工程人員實(shí)現(xiàn)微小位置的電學(xué)參數(shù)測(cè)試。Advanced在中國(guó)推出手動(dòng)分析探針臺(tái)近10年歷史，銷售實(shí)績(jī)800多臺(tái)，并且每年銷量行業(yè)銷量。行業(yè)客戶有：友達(dá)光電、華映光電、奇美光電、群創(chuàng)光電、飛兆半導(dǎo)體、德州儀器、華虹集成、華為、電子五所、航天808所、航天201所、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、西安電子科技大學(xué)、溫州大學(xué)、福州大學(xué)、廈門大學(xué)等等……
點(diǎn)針工作站手動(dòng)分析探針臺(tái)失效分析半導(dǎo)體測(cè)試元器件電性能測(cè)試
型號(hào)： PW-400
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動(dòng)行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學(xué)單位等
點(diǎn)針工作站手動(dòng)分析探針臺(tái)失效分析半導(dǎo)體測(cè)試元器件電性能測(cè)試
型號(hào)： PW-600/PW-800
規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
RF高頻探針臺(tái)
東、南、西、北測(cè)試臂
搭配美國(guó)GGB高頻測(cè)試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten
