布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 輕敲模式 OLTPA-R3

更易定位，更適合如按樣品。

此型號為布魯克貼標產品，同型號奧林巴斯OMCL-AC240TS-R3 探針。

懸臂共振頻率：70(50~90) kHz（空氣中），彈性系數：2 N/m。

針尖曲率半徑：7nm（典型值）

AL涂層。

1.較小彈簧常數更適合測量軟樣品

2 N / m的彈簧常數是AC模式的硅懸臂中的，適用于觀察軟樣品的表面形貌和粘彈性。

2.用低電阻率硅測量表面電位

懸臂基材采用N型摻雜硅，表面電阻為0.01-0.02Ω·cm（是其他基材表面電阻的1/200）。這可以用于測量表面電位和其他應用。

3.理想情況下指向終止探針

四面體探針的頂點理想地是點終止的。

從正面看，四面體探針顯示出良好的對稱性。考慮幾何特征，選擇快速掃描（X）方向。檢查掃描線輪廓和頂點的放大視圖。

4.好評的'TipView'結構

由于'TipView'結構，探頭可以輕松定位在您感興趣的位置。

探頭位于懸臂的末端，以便在光學觀察期間探頭頂點不會被遮擋。

5.反射側鋁涂層

在懸臂上涂覆厚度為100nm的薄鋁膜，用于反射來自AFM設備中的偏轉傳感器的光。可以預期用于高S / N感測的高反射。

詳細規格：

延展閱讀：

關于布魯克：

布魯克公司以的生產工藝，的AFM領域背景，的生產裝備，賦予探針制造眾多的優勢，在廣泛的應用領域中提供完整的AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心優勢：

*Cl100級別的室

*的設計、制造工序及制造工具

*探針設計團隊與AFM設備研發團隊通力合作，配合緊密

*訓練有素的生產團隊，制造出各種型號的探針

*的質量管理體系，探針性能行業

在實驗中，用戶所得到的數據取決于探針的質量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制，的質量測試，和AFM領域的背景。所以用戶盡可放心，我們的探針不為您當前的應用提供所需的結果，同時也能為將來的研究提供參考數據。

原子力顯微鏡AFM探針:  

探針的工作模式：主要分為：掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結構：懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius：一般為10nm到幾十nm。

制作工藝：半導體工藝制作

指標：

探針的指標主要分三個部分，分別對應了基片，微懸臂梁，和針尖三個部分。

1. 基片，就是基片的長，寬，高，各種探針的基片尺寸是基本一致的。

2. 懸臂梁，分為矩形梁和三角形懸臂梁，他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數和共振頻率。而彈性常數K是探針的很重要的一個參數，一般來說，接觸模式的探針的彈性常數小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTP的彈性常數是40N/m。

3. 針尖，針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有，曲率半徑(Tip Radius)，探針高度（Tip Height），對應于四面體的指標，前角（Front Angel），后角（Back Angel），側角（Side Angel），還有一個是Tip Set Back，對應的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質：

1. 輕敲探針：一般是單晶硅，型號如RTP；

2. 接觸模式探針：材質是SiN，而新型號的SNL接觸探針，懸臂梁是SiN，而針尖則Si（曲率半徑2nm左右），這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖；

3. 功能探針：如磁力探針（MP），導電探針，則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MP的鍍層是Co/Cr，SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹：

  常用探針型號介紹

1. 輕敲模式，RTPA-300，TP，FP

2. 接觸模式，SNL，NP，

3. 智能掃描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡，MP-V2,MP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡，導電AFM，等電學測量模式，DDP，SCM-PIT，SCM-PIC等。

6.  其他功能探針。如金剛石探針，大長徑比探針。