主要特性與技術指標

本

本 +/-0.8%

掃描參數

頻率：1 MHz 至 3 GHz

振蕩器電平： 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

更多特性

Windows 風格的用戶界面

內置 VBA 編程功能

,過 LAN 接口進行數輸

多功能測量選件

介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）

的晶圓測量（選件 E4991A-010）

溫度特性測量（選件 E4991A-007）

描述

E4991A 射頻阻/材料分析提供限阻測量性能和大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在,泛的阻范圍內提供更的阻測量結果。本阻是 +/-0.8%。高 Q 有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估

E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。

晶圓測量

借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Keysight E4991A 連接到射頻探頭系統（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。

溫度特性評估

溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C ,泛的溫度范圍內提供的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂補償功能。

，E4991A 使用射頻電流電壓（RF-IV）技術，可在,泛的阻范圍內提供更的阻測量結果。本阻是+/-0.8％。高Q 有利于進行低功耗元器件分析。

介電/磁性材料測量（選件E4991A-002）

的晶圓測量（選件E4991A-010）

溫度特性測量（選件E4991A-007）e of 3 GHz. The E4991A uses an RF-IV technique, as opposed to the reflection measurement technique, for more accurate impedance measurement over wide impedance range. Basic impedance accuracy is +/-0.8%. High Q accuracy enables low-loss component ysis. The internal synthesizer sweeps frequency from 1 MHz to 3 GHz with 1 mHz resolutio