產(chǎn)品應用:
P加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
特點優(yōu)勢:
1.**優(yōu)化設(shè)計,美觀大方,做工精細。
2.采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器,具有高,控制穩(wěn)定特點(依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏,U曲線數(shù)據(jù)功能,和通訊功能)。
4. P加速老化試驗箱的水路配電盤分離,設(shè)備穩(wěn)定。
5.采用真空泵,使箱內(nèi)**純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
6.多項保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方能顯示。
保護:
1.誤操作裝置:P加速老化試驗箱鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動。
2.壓保護:當鍋內(nèi)壓力過工作值自動排氣泄壓。
3.溫保護:當鍋內(nèi)溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。
4.燙傷保護:材質(zhì)制成可操作人員接觸燙傷。
5.機臺異常關(guān)閉全機停電處理及故障提示。
6. P加速老化試驗箱手動保護排壓伐。 規(guī)范要求
1、P加速老化試驗機內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計,復合**容器標準,可以試驗 結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸 汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。
2.配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸
量身定制產(chǎn)品架。











