日立X-Strata920鍍層測厚儀
使用X射線熒光(XRF)進行的鍍層厚度測量是經過證明的快速的分析技術，X-Strata920設計為面向電子產品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層(包括合金層)，應用對 X-Strata920 進行了進一步升級， 獲得、可重復結果，滿足數百種應用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、損處理、處理等。
X-Strata920這一出色的工具可樣品合規格，同時通過避免過度電鍍和返工來降。操作員加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即可顯示出來，然后操作員可快速執行下一個任務。得益于通過可追溯標準打造的優化校準方式，您將對結果的準確性充滿信心。
使用X-Strata920可遵從各種行業規范，如-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
