詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：臺灣
- 尺寸：100 x 58 x 151.7 mm / 3.94 x 2.28 x 5.97 inch
- 重量：. 1.25kg
Chroma 19501-K局部放電測試器內建交流 耐電壓測試(Hipot Tes t)與局部放電(Partial D i s c h a rg e, P D)偵測功能于一單機，提供 交 流 電 壓 輸 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏 電 流 測 量 范圍0 . 0 1 μ A ~3 0 0 μ A，局部放電偵測范圍 1pC~2000pC，針對高壓半導體組件與高絕緣材 料測試應用所設計與開發。
Chroma 19501-K局部放電測試器產品設計符合IEC60270-1法規，針對高電壓試驗技術中對 局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrowband) 量測技術進行PD放電量測量，并將量測 結果以直觀數值 (pC) 顯示在屏幕上讓用戶清 楚明了待測物測試判定結果。
產品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符 合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規要 求，內建IEC60747-5-5法規之測試方法于儀器內 部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供使 用者便利的操作接口。 于生產在線執行高壓測試時，如果待測物未能正 確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至 發生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測 試線良好連接是非常重要的。
Chroma 19501-K獨特之高 壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之 組件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測 試有效性與生產效率。 在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層 時，額定工作高壓狀態下，由于較高的電場強度 集中于氣隙而產生局部放電 (Partial Discharge), 持續性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影 響電氣產品之長久信賴性，而引起安全事故。
應用于電源系統之安規組件，如光耦合器，因考量如果組件長時間發生局部放電對于絕緣材料的 破壞，而發生絕緣失效的情況，進而引發使用者 人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規中提 及，于生產過程中 (Routine test) 必須100%執行 局部放電 (Partial discharge) 檢測，在絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正常工作環境中不會發生局部放電現象。 局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼 電器及高壓開關等高絕緣耐受力之組件，提供高 壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產品質量與提升產品可靠度。
Chroma 19501-K特點：
■ 單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能
■ 可程序交流耐壓輸出 0.1kVac~10kVac
■ 高精度及高分辨率電流表 0.01μA~300μA
■ 局部放電(PD)偵測范圍 1pC~2000pC
■ 高壓接觸檢查功能( HVCC)
■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法規測試要求
■ 內建IEC60747-5-5測試方法
■ 量測與顯示單元分離式設計
■ 三段電壓測試功能
■ PD測量結果數值顯示 (pC)
■ PD不良發生次數判定設定 (1~10)
■ 多語系繁中/ 簡中/英文操作接口
■ USB畫面擷取功能
■ 圖形化輔助編輯功能
■ 標準LAN、USB、RS232遠程控制
局部放電 Partial Discharge 局部放電意指在絕緣物體中局部區域發生放電，且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。
局部放電測試器對待測物施加一個特定條件下的電壓，測量其視在放電電荷量(PD)，除了驗證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力，同時也 驗證在額定工作電壓的絕緣完整性。
局部放電測試能夠偵測待測物是否存在異常氣隙，透過施加一個略高于組件額定工作電壓的局部放電電 荷測試，用以檢驗電氣組件在正常工作電壓條件下之長久可靠性，但于實際生產上絕緣材料內部當然不可能百分之百無氣隙存在于絕緣材料內， 故在IEC60747-5-5光耦合器法規針對局部放電測試定義其放電電荷量不能大于5pC (qpd =5pC)。
