BKTEM-Dx全自動(dòng)熱電性能分析系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率， 電阻率，V-1裝置

產(chǎn)品介紹：

   BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款全新的自動(dòng)化熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀，該儀器實(shí)現(xiàn)了一體化設(shè)計(jì)，無(wú)需手動(dòng)，電腦軟件上可以直接抽真空，設(shè)置溫度，只要將樣品裝上之后，實(shí)現(xiàn)一鍵式的測(cè)量，電阻率及各個(gè)表格能夠直觀出現(xiàn)，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。

對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是不可或缺的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下: 

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出，自動(dòng)出來(lái)測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試報(bào)告。

一、適用范圍：

1、測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

2、熱電模塊的性能測(cè)試

3、評(píng)估熱電材料的z大熱電轉(zhuǎn)換效率

4、在負(fù)載及熱循環(huán)條件下測(cè)試熱電模塊的預(yù)期壽命

5、測(cè)試熱電材料的電阻，電阻率，賽貝克系數(shù)等參數(shù)

二、技術(shù)特點(diǎn)：

      一體化設(shè)計(jì)，所有參數(shù)直接在電腦上操作，無(wú)須人工干預(yù)

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

· 溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶，降低測(cè)試成本。

·試樣采用獨(dú)特的焊偶機(jī)構(gòu)，保證接觸電阻最小以及測(cè)量結(jié)果的高重現(xiàn)性。

· 每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.

· 采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差，可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。 

· 采用原裝進(jìn)口的采集儀，測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成。

一、應(yīng)用方向：

1、熱電模塊的性能測(cè)試

2、評(píng)估熱電材料的z大熱電轉(zhuǎn)換效率

3、在負(fù)載及熱循環(huán)條件下測(cè)試熱電模塊的預(yù)期壽命

4、測(cè)試熱電材料的電阻，電阻率，賽貝克系數(shù)等參數(shù)

二、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、熱電偶間距可以跟根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)或固定，滿足不同測(cè)試要求；

2、標(biāo)準(zhǔn)配置進(jìn)口高級(jí)商用數(shù)采儀表，避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差；

3、高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù)，包括溫差和測(cè)量步進(jìn)等高級(jí)要求

4、自動(dòng)化測(cè)量軟件，具備數(shù)據(jù)記錄，記錄、存儲(chǔ)及圖表

5、軟件計(jì)算賽貝系數(shù)，電阻，電阻率，熱電轉(zhuǎn)換效率等參數(shù)

三：儀器主要技術(shù)參數(shù)：

1、實(shí)現(xiàn)功能：在可控溫場(chǎng)下可同步測(cè)量Seebeck系數(shù)和電阻率；

2、流源參數(shù)：恒流源表，0~200mA；電勢(shì)測(cè)量采集系統(tǒng)采用高分辨數(shù)字萬(wàn)用表；

3、溫度控制：室溫-1150℃（紅外加熱）；溫度精度控制：+/-0.5K； 控溫速率：0.1–100K/min； 溫差控制：0-80K ；

4、Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)量方法：Seebeck系數(shù)-靜態(tài)直流法, 多溫差法   電阻率-四端法；

5、Seebeck系數(shù)測(cè)量范圍和分辨率：0.5μV/K-25V/K；測(cè)量分辨率：10nV/K； 電阻率測(cè)量范圍和分辨率：0.2μOhmm-2.5Ohmm；測(cè)量分辨率：10nOhmm；測(cè)量精度：Seebeck 系數(shù) : +/- 7%； 電阻率 : +/- 10%；

6、樣品尺寸：直徑或正方形 2-4mm，長(zhǎng)度6-22mm；探頭測(cè)試間距：4, 6, 8 mm；外接電源：220V ，50Hz；儀器氣氛：惰性氣氛、還原氣氛、真空；冷卻水循環(huán)水浴：制冷功率≥3600瓦； 真空度：＜10-2mbar；

7、軟件：圖形化界面， windows 菜單， 在線幫助功能，同步測(cè)量和分析數(shù)據(jù)，評(píng)估和數(shù)據(jù)采集可以同時(shí)完成；數(shù)據(jù)分析可系統(tǒng)誤差評(píng)估；系統(tǒng)誤差校正。

加熱恒溫降溫溫度程序化設(shè)計(jì)；易于操作的菜單設(shè)計(jì)；具有參數(shù)輸入功能；測(cè)量結(jié)果可以ASCII碼輸出，EXCEL等格式輸出；以曲線和表格