- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：中國
- 行程：80*60mm
- 物鏡放大倍率：10X 20X 50X
- 量測解析度： 0.1nm
白光干涉技術以可見白光為光源，光源發出的 白光通過干涉物鏡后，在物鏡出口處的半透射 光學平面反射一半光強，另一半光強透射后照 射在量測物表面，量測物表面的反射光又再次 進入干涉物鏡與原光學平面的反射光產生干涉 由于白光為短同調光，干涉條紋只產生 在焦點位置，排除焦點外與雜光所導致的干擾 搭配「高速面型CCD 攝像機」記錄干涉條紋產生的位置，再搭載「納米級垂直掃描器」移動物鏡記錄納米級的高度位置，就能重現量測對象的3D 表面形貌。
使用白光為干涉光源，在物鏡焦點位置能產生干涉條紋，排除焦點外與雜光所導致的干擾，搭配高速面型CCD 攝像機直接提取整個畫面，不需要逐點掃描，迅速又直接。
干涉物鏡搭載「納米級垂直掃描器」 ,使鏡頭以「納米級」高精度的移動，配合前沿的干涉條紋解析法實現了0.1 nm的解析能力。
使用的白光光源為一般儀器用光源，使用時間長，更換方便且不需要調校，相對于使用電子束或雷射等需要調校的顯微量測儀器，保養與維護容易。
量測對象只要有約1%的反射光束就能被量測，即使是玻璃或石英等高透明物體的表面這種難以計測的量測對象，也可以簡單快速的進行測量。
規格
硬體與光學系統 | |||
移動臺(mm） | 平臺尺寸150x150,行程80x60 | ||
鏡筒放大倍率 | 1.0 | ||
物鏡放大倍率 | 10X | 20X | 50X |
觀察與量測范圍(mm) | 0.43×0.32 | 0.21X0.16 | 0.088X0.066 |
光學解析度(μm) | 1.15 | 0.86 | 0.62 |
收光魚度(Degrees） | 17 | 23 | 33 |
工作距離(mm) | 7.4 | 4.7 | 3.4 |
感測器解析度 | 640x480像素 | ||
Z軸移動范圍 | 33 mm · 手動細調 | ||
Z軸位置數位顯示器 | 解析度0.5μm | ||
機臺重量 | 50 kg | ||
載重 | 1kg | ||
傾斜調整平臺 | 雙軸/手動調整 | ||
高度測量 | |||
測量范圍 | 100μm | ||
量測解析度 | 0.1 nm | ||
重復精度(σ)(1) | ≤0. 1%(量測高度：>10μm) ≤10nm(量測高度：1μm～10μm) ≤5nm(量測高度：<1μm) | ||
量測控制 | 自動 | ||
光源 | |||
光源類型 | 白光LED燈箱 | ||
平均使用壽命 | 30,000小時 | ||
資料處理與顯示用電腦 | |||
中央處理運算單元 | 雙核心以上CPU | ||
影像與資料顯示 | 17"液晶顯示 | ||
系統 | Windows7 (2) | ||
電源與環境要求 | |||
電源 | AC110V/220V,50Hz /60Hz | ||
環境震動 | VC-C等級以上 | ||
量測與分析軟件 | |||
量測軟件/分析軟件 |
ProfileViewer軟體： 具VSI/PSI量測模式、ISO粗糙度/階高分析、多樣的2D和3D觀測視角圖、 圖像縮放、標準影像檔案格式轉換、報表輸出等。 | ||
