泰克TEK的371B曲線追蹤器Tektronix 371A晶體管測試儀

Tektronix泰克371B晶體管圖示儀/測試儀/ 371B曲線追蹤器

泰克 371B 高功率曲線跟蹤儀/晶體測試儀的特點包括：

1）半導體器件的高精度測量

2）高壓和電流源（高達 3,000 V 或 400 A）

3）內置光標測量 - 點、窗口和功能線

4）波形比較和平均開爾文檢測測量

5）完全可編程

6）1.44 MB 軟盤驅動器存儲設置和曲線位圖

7）使用第三方打印機直接打印硬拷貝

8）Tek 371B 曲線跟蹤器的替代品：Tektronix 371A。

泰克 371B 曲線跟蹤儀用于測試各種功率半導體。371B 是高功率曲線跟蹤器的行業領導者，可對各種功率半導體執行直流參數表征，包括晶閘管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高壓集電極模式允許測試高達 3,000 伏的器件的關閉特性。脈沖高電流集電極模式提供大于 400 安培峰值的輸出電流脈沖，用于測試導通特性。它還允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試。

Tektronix 371B 測量的交互式控制是從全功能前面板或通過 GPIB 完成的。每個操作參數都可以使用 GPIB 控制器進行控制。Tektronix.com 網站上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驅動程序。這些驅動程序具有許多構建塊來創建自定義測量解決方案。

最多 80 條數字化特性曲線可以存儲在軟盤或內部非易失性存儲器中，只需按一下按鈕即可調用。然后可以將實時曲線與先前存儲的曲線進行比較，以評估溫度漂移或操作參數的其他變化。為幫助識別數據，最多可使用 24 個字符的文本來標記或注釋曲線數據。可以使用多種存儲方法調整、存儲和調用操作參數，包括系統內存、內置 1.44 MB 軟盤驅動器，或通過 GPIB 控制器發送到外部。

Tektronix 371B 提供三種光標測量模式。點光標提供任何點的電壓、電流、gm 或 DC beta 的直接屏幕讀數。窗口光標可以定位在兩條曲線之間以測量小信號 beta 或 gm，也可以用于視覺通過/不通過測試。功能線光標提供斜率或截距值的屏幕讀數。

測試夾具是一種標準附件，可提供安全的設備外殼，以確保在測量期間保護操作員。測試夾具可容納帶開爾文感應功能的標準適配器。

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