一、概 述
納米科技是二十一世紀(jì)影響人類的關(guān)鍵技術(shù)。掃描探針顯微鏡(SPM)是納米結(jié)構(gòu)的檢測和評估的
必備工具。
由于納米科技的高速發(fā)展,作為納米級檢測的常規(guī)手段的SPM類儀器種類繁多,目前已經(jīng)有20幾
個種類,分別應(yīng)用于不同的納米技術(shù)研究領(lǐng)域,而且還不斷會有更多種類的SPM出現(xiàn)。如果由一個公司
或機(jī)構(gòu)開發(fā)出所有種類的SPM是不現(xiàn)實的,因為任何一種SPM除去其特性以外,又包括了電子、計算
機(jī)軟硬件、機(jī)械、光學(xué)等很多知識。要完全掌握這些知識或組織掌握這些知識的人才在目前來說是
非常困難的。因此,國內(nèi)外只有為數(shù)不多的二十幾家企業(yè)可以生產(chǎn)SPM儀器,而且種類都不全。
掃描探針顯微鏡通用平臺是一套模塊化的軟硬件開發(fā)平臺工具系統(tǒng),適用于由用戶組裝或合作開發(fā)
特殊功能的SPM儀器,以及其它納米測量儀器、掃描設(shè)備。提供了一種開發(fā)生產(chǎn)SPM儀器的新的思路和方
法,其是將SPM儀器分解成兩個大部分,即:SPM通用平臺和特征部分。通用平臺包括幾個獨立的模
塊,囊括各種SPM儀器所共有的功能;特征部分包括各種SPM探針結(jié)構(gòu)及相應(yīng)的信號前置放大器,是各種
SPM所特有的功能部分。通用平臺與特征部分之間有標(biāo)準(zhǔn)接口和擴(kuò)展接口。根據(jù)不同種類的SPM,在通用
平臺上搭配不同的特征部分,或者由用戶按照公開的標(biāo)準(zhǔn)接口和擴(kuò)展接口定義,自己開發(fā)所需的特征部
分。如此,就可以迅速開發(fā)出各種SPM。
二、掃描探針顯微鏡(SPM)通用平臺基本原理、構(gòu)成及其功能擴(kuò)展
(一)SPM通用平臺的基本原理
掃描探針顯微鏡(SPM)的工作原理是基于微觀或介觀范圍的各種物理特性,通過原子線度的極細(xì)探
針在被研究物質(zhì)的表面上方掃描時檢測兩者之間的相互作用,以得到被研究物質(zhì)的表面特性。
不同類型的SPM之間的主要區(qū)別在于它們的針尖特性及其相應(yīng)的針尖-樣品相互作用方式的不同,以及相應(yīng)的前置信號處理/放大電路。根據(jù)這一點,我們設(shè)計了SPM通用平臺,其是將SPM儀器分解成兩個大部分,即:SPM通用平臺和特征部分。通用平臺包括:掃描驅(qū)動電路/器件/軟件,反饋控制電路/軟件,馬達(dá)粗調(diào)定位電路/器件/軟件,環(huán)境減震機(jī)構(gòu),AD/DA轉(zhuǎn)換、DIO等計算機(jī)接口,一些通用的圖象處理軟件,是各種SPM儀器所共有的特性;特征部分包括各種SPM探針結(jié)構(gòu)、相應(yīng)的信號前置放大器及相應(yīng)的軟件控制模型。將通用平臺劃分成幾個獨立的模塊,模塊之間有標(biāo)準(zhǔn)接口,通用平臺與特征部分之間也有標(biāo)準(zhǔn)接口和擴(kuò)展接口,并且開放這些接口的定義。這樣就構(gòu)成了SPM儀器的通用平臺。根據(jù)不同種類的SPM,搭配不同的特征部分,或者由用戶按照公開的標(biāo)準(zhǔn)接口和擴(kuò)展接口定義,自己開發(fā)所需的特征部分。如此,就可以迅速開發(fā)出各種SPM以及要求納米量級加工和定位移動的設(shè)備,產(chǎn)生大量我國自主知識產(chǎn)權(quán)的SPM儀器,以擺脫由于國產(chǎn)儀器功能/種類不全而必須進(jìn)口外國儀器的局面。
由于SPM通用平臺規(guī)范的模塊化設(shè)計,標(biāo)準(zhǔn)的接口版本定義和軟件的用戶級開發(fā)模板和程序封裝技術(shù),使得SPM儀器也可以像PC機(jī)一樣,擁有很強(qiáng)的兼容性,各種類間的升級換代,新功能的二次開發(fā),軟件的資源共享都可以像PC機(jī)一樣方便。這些好處已經(jīng)在我公司的產(chǎn)品系列中得到了驗證。
(二)SPM通用平臺的基本構(gòu)成
SPM通用平臺由掃描驅(qū)動電路/器件/軟件,反饋控制電路/軟件,馬達(dá)粗調(diào)定位電路/器件/軟件,環(huán)境減震機(jī)構(gòu),AD/DA轉(zhuǎn)換、DIO等計算機(jī)接口,一些通用的圖象處理軟件七部分組成。
(三)SPM通用平臺的功能擴(kuò)展
SPM通用平臺的特點就是為SPM家族中眾多種類儀器的開發(fā)提供了一個高、開放接口、便于升級和擴(kuò)展的軟硬件基礎(chǔ)。
在SPM通用平臺上進(jìn)行功能擴(kuò)展有三種方法。
一是選購現(xiàn)有的功能模塊進(jìn)行組裝,實現(xiàn)產(chǎn)品升級換代;
二是針對一些特殊應(yīng)用的SPM,由用戶按照公開的標(biāo)準(zhǔn)接口和擴(kuò)展接口定義,以及軟件開發(fā)模
板,自己開發(fā)所需的特征功能部分,裝載到SPM通用平臺上;
三是軟件功能擴(kuò)展,我們所有的軟件都是模塊化設(shè)計,當(dāng)有新的功能模塊開發(fā)完成后,用戶可
以從我們的網(wǎng)站上軟件模塊,直接安裝到計算機(jī)上,使用戶的軟件應(yīng)用系統(tǒng)始終處于
先進(jìn)的狀態(tài)。
三、掃描探針顯微鏡(SPM)通用平臺的可擴(kuò)展特征驗證
(一)掃描隧道顯微鏡(STM)功能模塊
在SPM系列顯微鏡中,掃描隧道顯微鏡(STM)是簡單的一種,也是分辨率的一種。在排除外界振動的情況下,使用一周內(nèi)解理的HOPG樣品,經(jīng)過丙酮清洗機(jī)械成型法制備的Pt-Ir針尖,用我們的儀器得到可分辨原子圖象的概率超過90%。這些指標(biāo)直接證明了通用平臺的技術(shù)性能指標(biāo)。
(二)原子力顯微鏡(AFM)功能模塊
對原子力顯微鏡(AFM)而言,高質(zhì)量的聚焦激光探測器和對外部環(huán)境震動的有效隔離是其分辨率的。在不考慮聚焦激光探測器質(zhì)量的前提下,對于相同的外部環(huán)境震動系統(tǒng),STM是AFM分辨率的10倍,這一點,已經(jīng)是行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的一個指標(biāo)。我們整個AFM的開發(fā)過程只用了兩個月的時間,也直接證明了SPM通用平臺的實用性和易開發(fā)性。
四、掃描探針顯微鏡(SPM)通用平臺特點及其技術(shù)指標(biāo)
(一)SPM通用平臺特點
該通用平臺的特點就是為SPM家族中眾多種類儀器的開發(fā)提供了一個高、開放接口、便于升級和擴(kuò)展的軟硬件基礎(chǔ)。
1.通用平臺的硬件可擴(kuò)展性
設(shè)定統(tǒng)一軟硬件接口,便于二次開發(fā)和產(chǎn)品升級;
在采集/控制接口部分采用EPP模式并行口采集/控制系統(tǒng),共提供16路AD、16路DA、32路DI、32
路DO和一個可編程三輸出時鐘信號源;
與特征部分之間采用8線標(biāo)準(zhǔn)接口,和可由用戶自己定義的擴(kuò)展接口;
在主板上,提供8路高壓信號接口、功能模塊擴(kuò)展接口,及8路高馬達(dá)控制接口。
2.通用平臺的用戶級軟件可擴(kuò)展性
用戶級可擴(kuò)展性不同于普通意義的二次開發(fā),通常的二次開發(fā)只提供一些動態(tài)庫接口,開發(fā)方
必須全部重新編制一套完整的軟件,包括界面、文件系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理算法、軟硬件接口等,而我們
的用戶級軟件可擴(kuò)展性,可以在系統(tǒng)運轉(zhuǎn)的同時,直接在我們的軟件基礎(chǔ)上進(jìn)行功能模塊的添
加、修改和擴(kuò)充,而不必重新編制一套完整軟件,方便而可行。
對于較復(fù)雜的部分,我們采用封裝和自動模板技術(shù),大大降低對用戶軟件水平的要求。
同時,每一個模塊都是獨立的,接口采用我們制定的標(biāo)準(zhǔn)接口方式,而不必開放太多的技術(shù)內(nèi)
容,如此就可以妥善保護(hù)各方面的知識產(chǎn)權(quán)。
3.通用平臺的速度與
雙AD(12位,可擴(kuò)展為16位)同步采集,采集速度 >100KHz;
雙DA(12位,可擴(kuò)展為16位)同步發(fā)送,發(fā)送速度 >200KHz;
高壓輸出-150V ~ +150V,紋波1.5mV;
由于低噪聲AD/DA技術(shù)的實現(xiàn),使得我們獨立知識產(chǎn)權(quán)的平衡差分放大技術(shù)成為可行。有效信號
采樣基本達(dá)到20位的,同時雙通道同步轉(zhuǎn)換速度達(dá)到200KHz。
(二)SPM通用平臺技術(shù)指標(biāo)
1. 樣品臺大小:φ10mm
2. 掃描范圍:6μm×6μm×1.25μm
3. 在上述范圍內(nèi)有效極限掃描:0.03nm×0.03nm×0.006nm
4. 掃描速度:56000 P/S
5. 針尖逼近方式、行程及:線動螺紋+自動馬達(dá),行程<10mm,<0.1μm
6. 采樣數(shù): 256×256 / 512×512
7. 計算機(jī)離線處理軟件:校正,濾波,平滑,反轉(zhuǎn),F(xiàn)FT,剪切,剖面線,三維顯示,文件操作等
8. 電氣防護(hù)安全:絕緣電阻>5MW,泄漏電流<5mA,介電強(qiáng)度1500V/分鐘電壓試驗。
五、SPM通用平臺的獨到之處
SPM通用平臺采用了獨到的硬件、軟件可擴(kuò)展技術(shù);
同步雙通道掃描和數(shù)據(jù)采集技術(shù);
雙12位掃描/采樣技術(shù)(其與20位相當(dāng),以保證XY理論掃描為0.01nm,Z理論分辨為
0.002nm);
差分同步獨立高壓放大技術(shù)(在±150V高壓范圍內(nèi),使得低頻噪聲紋波小于1.5mV,信噪比為
200000:1);
智能型針尖連接技術(shù)(已申請了),使儀器可以自動識別并運行當(dāng)前裝載的顯微鏡的工作模
式,使用非常方便。
使得在SPM通用平臺上開發(fā)的STM/AFM一體機(jī)整體性能在同類產(chǎn)品中達(dá)到國內(nèi),國際先進(jìn)水平。
(通過鑒定結(jié)論)
六、結(jié)束語
通用、開放、兼容是我們開發(fā)SPM儀器的指導(dǎo)思想和理念。
SPM是一種極具潛力的檢測分析儀器,甚至微加工設(shè)備,其種類和功能在今后將有長足的發(fā)展和突破,各家關(guān)起門來打造各成體系的儀器是既不利于也不適應(yīng)其發(fā)展趨勢的。
目前的SPM產(chǎn)品種類單調(diào),功能也有很大的局限,這從很大程度上延滯了SPM市場的成長。
只有規(guī)范通用標(biāo)準(zhǔn)的軟硬件接口,并且開放接口,使其兼容,才能夠使各家集中精力發(fā)展自己的優(yōu)勢,并為優(yōu)勢的互相整合提供了可行的途徑,終打造出整體品質(zhì)優(yōu)良,功能強(qiáng)大的SPM儀器,以應(yīng)市場發(fā)展的需要。
技術(shù)的快速發(fā)展需要開放,這是必然的趨勢,而開放又需要保護(hù)和規(guī)范做前提,這看似矛盾,但PC機(jī)的發(fā)展史已經(jīng)為21世紀(jì)技術(shù)發(fā)展提供了一個成功的典范。SPM通用平臺是我們?yōu)榇怂龅囊恍﹪L試和努力,希望以我們微薄的力量呼吁起整個行業(yè)對SPM儀器通用、開放、兼容性發(fā)展的重視和共同的努力。






