- 產品品牌:
- JEOL日本電子
- 產品型號:
- EM-09100IS
- 類型:
- 電子顯微鏡
用于TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER的創新的樣品制備方法
利用離子切片儀除了需要將樣品切成矩形薄片外不需要常規的透射電鏡制樣過程(電解液或前期處理的手工研磨,凹坑機研磨)可直接制備薄膜樣品
離子切片儀制備薄膜樣品比傳統的制備工具快速,簡單. 低能量,低角度(0° 到 6°)的氬氣離子束通過遮光帶照射樣品,徹底消除離子束對樣品的損傷.即使是柔軟的材料,樣品制備質量也極好.離子切片儀能夠有效制備不同成份的樣品甚至含有多孔合成物.
特點:
- 高質量的透射電鏡前期制備
- 快速加工
- 無需復雜前處理
- 小限度表面損傷







