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■ 系統操作簡單、便捷; | ||||||||||||
| ■ 測試缺陷:裂紋,雜質,空洞,微晶區等; ■ 掃描模式:線掃描; ■ 測試速度:4面檢測<1分鐘; ■ 測試尺寸:400×210×210mm; ■ 光源<300W ■ 定位:<100μm; ■ 定位重復性:30μm; ■ 分辨率:1000×2600px; ■ AC:110V/15A。 | ||||||||||||
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| ■ 測試缺陷:裂紋,雜質,空洞,微晶區等; ■ 掃描模式:線掃描; ■ 測試速度:4面檢測<1分鐘; ■ 測試尺寸:400×210×210mm; ■ 光源<300W ■ 定位:<100μm; ■ 定位重復性:30μm; ■ 分辨率:1000×2600px; ■ AC:110V/15A。 | ||||||||||||
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