介電常數介質損耗測試儀使用條件
①環境溫度： 0～40℃
②相對溫度：≤70%
③供電電流：交流 220V±10%50Hz
2.3 儀器可連續工作 8 小時
2.4 消耗功率：約 10W
2.5 外形尺寸：長寬深 355mm×320mm×145mm
介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率
可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
介電常數介質損耗測試儀特點：
◎ 本公司的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數介質損耗測試儀電感器：
按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。
例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。
高頻介質樣品（選購件）：
在現行高頻介質材料檢定系統中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。
該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以測試裝置的重復性和準確性。
介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率
可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
介電常數介質損耗測試儀裝置：
2.3.1 平板電容器片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm，±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
保存環境：
儀器要求的工作溫度：10℃－30℃，濕度：≤65%RH。
為了儀器測量或不損壞儀器，
請注意以下事項：
a. 請勿將儀器放在多灰塵、多振動、日光直射或有腐蝕氣體下使用。
b. 盡管儀器針對電源交流噪音進行了處理，但仍盡可能放置在噪音小的環境下使用。如實在無法避免，請為儀器另加穩壓電源。
請將本儀器存放在溫度0℃－40℃的環境下，若長時間不用，應包裝保存好。
