介電常數介質損耗測試儀工作原理

本測試裝置是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率0.0033pF的線性可變電容器，配用Q表作為指示儀器，緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數。

介電常數介質損耗測試儀特點： 

◎ 本公司的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

介電常數介質損耗測試儀電感器：

按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。

高頻介質樣品（選購件）：
在現行高頻介質材料檢定系統中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。

該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以測試裝置的重復性和準確性。

介電常數介質損耗測試儀主要技術指標： 

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

介電常數介質損耗測試儀指標：

1.    平板電容器二片平行度不過0.02mm。

2.    園筒電容器的軸和軸同心度誤差不過0.1mm。

3.    二個測微桿0.01mm分辨率。

4.    用精密電容測量儀（±0.01pF分辨率）測量園筒電容器，電容呈線性率，從0~20mm，每隔1mm測試一點，要求合工作特性要求。

介電常數介質損耗測試儀由精密機械構件組成的測微設備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在腐蝕氣體和干燥的環境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否則其工作性能就不能，如測試夾具受到碰撞，或者作為定期檢查，