─電制冷固態探測器的信/躁比,從而降低檢測下限。探測器分辨率高,能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。探測器靈敏窗口大幅了計數率,大多數的分析能在數秒或數分鐘內完成。靈活組合運用五個初級濾波器,使X光管激發效率,得到優的應用效果。
─儀器測量直徑小可150微米,可供選擇的準直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。設計的鋁鈦板在檢測輕制樣品時能大幅降低背景噪音,從而更低的檢測下限。對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測 。
─儀器在設定的檢測程序中可通過掃瞄功能性快速分析大面積的指定區域。一旦識別出問題區域,即可對特定小點進行定量分析。掃瞄分析及元素分布成像功能能夠快速識別復雜組件中的含鉛的部件或連接件。該款儀器內置數碼影像裝置,能夠顯示樣品擺放位置及測試點位置。樣品掃瞄映射成像圖中可對各種待測元素設置不同顏色,然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。
─根據不同應用,您可以選擇不同的分析方法:經驗系數法、基本參數法或兩者結合。如果您知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍,經驗系數法是合金分類和元素含量分析的檢測方法。當無法預知準確的元素組成或標準片不情況時,可選用基本參數法,通過儀器擁有的完整光譜數據庫,對基材和鍍層進行可信的厚度測量和元素定量分析,測試范圍可以ppm至%。
─自由距離測量及型樣品艙數據統計大,包括平均值、標準偏差、柱狀圖和管理圖表。數據及時導出,可以保存為Excel格式,并快速生成分析。用戶能設置快捷鍵,對樣品進行一鍵校準。用戶界面提供9種操作言言大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范圍內自由調節聚焦距離,來實現對樣品不同表面的測量。樣品艙內部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設計能徹底輻射污染,針對塑料等輕質樣品的檢測過程而設計。大艙門使樣品更易放入。
─自定義程序能通過自定義清晰顯示樣品測試是否合格或不合格,還可設置其他針對特定被測元素的報警程序。生成軟體,可證明用戶在檢測消費品是否含有有害元素的過程中所采取的盡職措施
1,可以測量多層膜中每一層的厚度
2,三維的厚度型貌
3,遠程控制和在線測量
4,可做150mm or 300mm 的大范圍的掃描測試
5,豐富的材料庫:操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數據,基本上的常用材料都包括在這個材料庫中.用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料.
6,軟件操作簡單,測速快:膜厚測量儀操作簡單,測量速度快:100ms-1s.
7,軟件帶有構建材料結構的拓展功能,可對單/多層薄膜數據進行擬合分析,可對薄膜材料進行預先模擬設計.
8,軟件帶有可升級的掃描功能,進行薄膜二維的測試,并將結果以2D或3D的形式顯示.軟件其他的升級功能還包括在線分析軟件,遠程控制模塊等>膜厚儀的技術參數
厚度測量:10納米-250微米; 可以選擇250nm-1100nm間任一波長,也可在該范圍內選擇多波長分析;







