產品
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、傷的體電阻率測試。
無接觸式電阻率型號測試儀-產品特點
■測試范圍廣，低阻可測至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm，高阻可測至100ohm.cm
■產品體積小，便于移動和攜帶
■采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■無接觸、傷快速測試
■測試前無需表面處理
■對于多晶，能夠避免晶界對測試的影響
■測試范圍：0.001-100 ohm.cm（分段測試）
■可選加無接觸PN型號測試功能
■可進行溫度和厚度的修正
無接觸式電阻率型號測試儀-技術指標
■硅棒硅塊可測量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
■小測試厚度：200μm
■測量時間：2秒/次
■小測試面積：30x30 mm
■推薦使用溫度：20℃
■濕度：≤80%
■氣壓：86-106kPa
■使用電壓：230&plun;10V
■頻率，50&plun;3Hz
■功率消耗：≤5W
■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、傷的體電阻率測試。
無接觸式電阻率型號測試儀-產品特點
■測試范圍廣，低阻可測至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm，高阻可測至100ohm.cm
■產品體積小，便于移動和攜帶
■采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■無接觸、傷快速測試
■測試前無需表面處理
■對于多晶，能夠避免晶界對測試的影響
■測試范圍：0.001-100 ohm.cm（分段測試）
■可選加無接觸PN型號測試功能
■可進行溫度和厚度的修正
無接觸式電阻率型號測試儀-技術指標
■硅棒硅塊可測量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
■小測試厚度：200μm
■測量時間：2秒/次
■小測試面積：30x30 mm
■推薦使用溫度：20℃
■濕度：≤80%
■氣壓：86-106kPa
■使用電壓：230&plun;10V
■頻率，50&plun;3Hz
■功率消耗：≤5W
■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
