NCS-R80無接觸厚度電阻率測試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測量的儀器,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎的材料,的設計都合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標準,與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。
特征
■無接觸傷測量
■電阻率和厚度同時測量
■適用的晶圓材料包括Si,GaAs,InP,Ge等幾乎的材料
■電腦觸摸屏顯示
■干擾強,穩(wěn)定性好
■強大的工控機控制和大屏幕顯示
■一體化設計操作更方便,系統(tǒng)穩(wěn)定
■為晶圓硅片關鍵生產(chǎn)工藝提供的無接觸測量
技術指標
■測試尺寸:50mm-300mm.
■厚度測試范圍:1000 um,可擴展到1700 um
■厚度測試:+/-0.25um
■厚度重復性:0.050um
■TTV 測試:+/-0.05um
■TTV重復性:0.050um
■電阻率測試范圍:0.1ohm.cm——50 ohm.cm
■電阻率測試:+/-2%
■電阻率測量重復:+/-1%
■晶圓硅片導電型號:P 或 N型
■材料:Si,GaAs,InP,Ge等幾乎半導體材料
■可用在:切片后、磨片前、后,蝕刻,拋光以及出廠、入廠質量檢測等
■平面/缺口:的半導體標準平面或缺口
■硅片安裝:裸片,藍寶石/石英基底,黏膠帶
■連續(xù)5點測量







