交流阻斷（或反偏）耐久性試驗是在一定溫度下，對半導體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規定的時間，從而對器件進行質量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。
一般情況下，此項試驗是對器件在結溫（Tjm ℃）和規定的交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應力組合下，進行規定時間的試驗，并根據抽樣理論和失效判定依據，確認是否通過， 同時獲相關試驗數據。
該系統符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC標準試驗要求。
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