- 兼容有球無球測試，IC限位框可更換，相比同類產(chǎn)品具有使用壽命長、通用性廣（支持尺寸：14mmX18mm）；
- 電壓可調設計，同時具備過流保護功能,可以測試flash與主控芯片電流（加電流表可監(jiān)測電流）；
- 支持熱拔插，同時支持通過SD接口、排針與相應設備連接測試；
- 同時兼容：東芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等所有同樣封裝的 4BIT 、8BIT eMMC 閃存記憶體。 (只需相應 PIN 腳定義一樣同時兼容 169-FBGA 153-FBGA ；
- 彈片采用鈹銅經(jīng)高模具沖壓成形，頭形仿探針設計，后期加硬、加厚鍍金層處理，從而保證產(chǎn)品穩(wěn)定性及耐用性；
- 采用通孔焊接結構保證接觸良好，socket與PCBA采用定位孔結合方便更換；
- 采用下壓式結構,更加便于自動化測試，操作方便簡單；
