phoenix　nanome｜x　是分辨率的納米焦點　X射線檢測系統，設計用于檢測半導體及SMT行業的的組件和互連。該系統具有的性能和多功能性，可用于二維X射線檢測，以及全三維計算機斷層掃描（nano　）。有了新的　x｜a　軟件包，phoenix　nanome｜x是可選的系統，用以滿足目前和未來的缺陷要求。
　　
　　
　　
　　主要功能
　　通過卓越的雙向檢波器技術（數字圖像鏈與的溫度穩定的30幀每秒的數字探測器）獲取的清晰的活動影像
　　高放大倍率
　　的操作
　　高度的可再現性
　　180千伏/15　W高功率開放納米焦點管具有200納米的細節探測能力
　　可升級到　nanoò
　　可選：
　　x｜a　軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動X射線檢測（？AXI），以高的缺陷覆蓋率，具有高放大倍率和可再現性
　　通過高動態溫度穩定的GE　DXR數字探測器與主動冷卻獲取的30　FPS（幀每秒）的清晰的活動檢測影像
　　10秒內的三維計算機斷層掃描
　　通過菱形｜窗口以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數據采集
　　顧客利益：
　　組合的二維/三維操作
　　通過卓越的雙向檢波器技術（數字圖像鏈與的溫度穩定的30幀每秒的數字探測器）獲取的清晰的活動影像
　　檢測步驟的自動化是可能的
　　顯著的易用性
　　
　　附件
　　　選項：包括軟件　datos｜x、高旋轉裝置、重建與可視化工作站
　　質量｜檢查：用于肉眼觀察和人工檢查結果的維修站軟件來自于自動程序運行，如　bga｜模塊，qfp｜模塊或　vc｜模塊。
　　轉換器：軟件包轉換結果文件，由質量｜或x｜a制作成其他格式，是第三方軟件要求的。
　　質量｜分析：用于分析和肉眼觀察檢查結果的軟件包，由自動程序收集，并由質量｜檢查檢查。
　　菱形｜窗口：以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數據采集
　　使用4MP影像鏈的4"圖像增強器：這種高分辨率的4"圖像增強器影像鏈：具有全數字讀出和圖像處理，是phoenix｜X射線二維系統的基本組成部分。探測器適用于二維實時檢測。
　　規格
　　管電壓　180千伏
　　功率　15瓦
　　細節檢測能力0.2微米
　　小焦物距　0.3毫米
　　體素分辨率（取決于物體大小）<1μm
　　幾何放大倍率（2D）1970倍
　　幾何放大倍率（3D）<300倍
　　目標尺寸（高　x　直徑）680毫米　x　635毫米/27"x　25"
　　物體重量　10千克/22磅
　　圖像鏈　200萬像素的數字圖像鏈
　　操作　5軸的樣本操作
　　2維X射線成像可以
　　三維計算機斷層掃描可以（可選）
　　系統尺寸　1860毫米　x　2020毫米　x　1920毫米/73.2"x　79.5"x　75.6"
　　系統重量　2600千克/5732磅
　　輻射-全柜，按照德國ROV（附件2　nr.3）和美國性能標準21　CFR　1020.40（機柜X射線系統）
　　-輻射泄漏率：<1.0μSv/h從機柜壁的10厘米處測量