菲尼克斯v|tome|x L 240是一款高分辨率微焦點系統,能對大型的鑄件、焊縫、電氣設備等工件進行3D計算機斷層掃描和2D X射線檢測。
客戶優勢
為三維測量設計的3D測量軟件包具備高度、重復性、界面友好的特點
在1小時內自動生成一份檢測
出色的軟件模塊了結果的高質量和簡便的操作
3D測量“點-測”功能具有高、重復性的特點。datos|x 2.0軟件能夠在自動執行掃描、重建和過程分析
采用velo|后,加速3D 重建結果能在數分鐘甚至數秒內完成(取決于工件體積大小)
主要特征
240kV/320W開放式微焦點X射線管
可選配雙射線源(240kV 微焦點射線管和180kV 高功率納米焦點射線管)
燈絲壽命延長10倍。采用了長壽命燈絲(可選)了系統長期穩定性,優化了系統性能
采用鉆石靶(可選),使得在相同圖像質量的前提下,數據采集效率一倍
采用GE的DXR 數字平板探測器,幀頻30 fps,能快速獲取數據和高質量圖像
應用
3D
X射線3D 在工業中的傳統應用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進行檢測和三維測量。然而,菲尼克斯的高分辨率X射線技術卻在傳感技術、電子、材料科學及其他自然科學中開辟了的應用領域。
渦輪葉片是復雜的鑄件,要求具有高質量,高性的特點。既能夠對其進行缺陷分析、也能進行的3D測量。
材料科學
高分辨率(微米或納米)不能用于檢測常規材料、復合材料,陶瓷材料和燒結,還能分析地質樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、空洞和裂痕實現三維可視化。
nano®展示的玻璃纖維增強塑料樣品:玻璃纖維的對齊與分布,礦物填充物(紫色)清晰可見。纖維寬度大約10um.
測量技術
X射線3D測量技術能夠對復雜工件的內部實現非破壞性測量。相比于傳統的觸點坐標測量技術,掃描能夠同時獲取工件表面的點,包括隱藏的特征。如浮雕,采用其他的測量方式進行非破壞性測量是不可能實現的。V|tome|x配備的的3D測量包提供了實現、可重復性、界面友好的三維測量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量,的體數據能夠快速、簡便地與CAD數據進行對比。比如可以用來分析整個部件的尺寸是否合設計的尺寸。
用CAD進行方差分析和測量汽缸頭的三個特征參數。
鑄件、焊縫檢測
射線具備的檢測的特點,通常用作于檢查鑄件和焊縫的缺陷。結合了微焦點X射線技術和工業X射線技術的系統,能夠識別別的缺陷并能提供低對比度缺陷的三維圖像。
鋁活塞鑄件的圖像展示工件內部隱藏的輪廓和內表面,包括空洞的尺寸和位置被自動地計算出來。這些射線圖像是三維測量的基礎。
產品規格
管電壓:240kV
管功率:320W
細節分辨能力:1um
焦點到工件的小距離:4.5mm
像素分辨率<2um
幾何放大倍數(2D)1.25倍到333倍
幾何放大倍數(3D)1.25倍到200倍
工件尺寸(高×直徑)600mm×500mm/23.6″×19.7″
工件重量:50kg/110.23lb
操作臺:穩定而靈活的7軸操作臺,配備高轉臺
2D X射線成像:支持
3D 功能:支持
的面數據提取技術:支持(可選)
CAD比較+三維測量:支持(可選)
系統尺寸:3900×2400×2700mm3/154″×94.5″×105″
系統重量:16.5 t/36376 lb







