CDNY-03AM是專為光學鍍膜設計的新一代光學膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術,因而對信號諧波和直流漂移具有強的抑制能力。
主要性能指標及技術指標
主信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入
輸入量程:0.5mV-500mV
信號頻率范圍:1KHz&plun;5%
本機頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差:≤0.1%
點時源:≤0.2%/h
參考信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入
輸入幅度:20-700mV
頻率范圍:≥320.
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